ダイヤモンドコート探針(DT, CDT)
高い硬度と耐摩耗性

ダイヤモンドコート (Diamond Coated Tip, DT)と導電性ダイヤモンドコート(Conductive Diamond Coated Tip, CDT)シリーズはシリコン標準プローブ(PPP)をベースとして探針側にダイヤモンドコートを施したプローブです。

ダイヤモンドコート探針 ダイヤモンドコート探針
探針先端の拡大像 探針先端の拡大像
インデンテーションによって刻まれた文字のAFM像 インデンテーションによって刻まれた文字のAFM像

ダイヤモンドコートには、厚さおよそ100nmの多結晶ダイヤモンドが用いられています。この膜はラマン分光法による分析で真のダイヤモンドであることが確認されています。



ダイヤモンドの卓越した硬度のおかげで探針はとても高い耐久性を示します。探針を試料にハードコンタクトさせる必要があるアプリケーション:フリクション、耐摩耗性、弾性力測定やナノストラクチャリングなどに最適です。



探針の先端曲率半径はマクロに見た場合100nmから200nm。最先端部分に限れば10nmのオーダーです。フラットな試料であれば高解像度に測定することできます。



導電性ダイヤモンドコート(CDT)シリーズは高性能、機械的に安定、さらに高伝導性を探針に要求するアプリケーションに推奨されます。コートティング膜の導電性は3-5mΩcm。金やプラチナで覆われたサンプルとの接触の場合、およそ10kΩ以下の抵抗値が得られます。この値は加える力によって異なり、良い導電性を得るには少なくとも6μNの力を加える必要があります。


アプリケーション例(図参照): DT-NCHRプローブを使ってシリコン<100>面にインデンテーションによって刻んだ“NANO”の文字。このAFM像はインデンテーションの後に同じプローブを使って測定されました。


製品仕様、タイプにつきましては製品カタログ(製品説明およびスペック表)をダウンロードしてご覧ください。


より詳しい製品情報をお探しの場合、英語Webサイトよりカタログをご利用頂けます。


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